LJ30A3-10-J標(biāo)準(zhǔn)接近開關(guān)CR18-8DN

LJ30A3-10-J標(biāo)準(zhǔn)接近開關(guān)CR18-8DN

接近傳感器，是代替限位開關(guān)等接觸式檢測方式。以無需接觸檢測對象進(jìn)行檢測為目的的傳感器的總稱。能檢測對象的移動信息和存在 信息轉(zhuǎn)換為電器信號，在換為電氣信號的檢測方式中，包括利用電磁感應(yīng)引起的檢測對象的金屬體中產(chǎn)生的渦電流的方式，捕測體的接近 引起的電氣信號的容量變化的方式、利石和引導(dǎo)開關(guān)的方式。在JIS規(guī)格中，根據(jù)IEC60947-5-2的非接觸式位置檢測用開關(guān)，制定了JIS規(guī)格 (JISC8201-5-2低壓開關(guān)裝置、第5控制電路機(jī)器及開關(guān)元件、第2節(jié)接近開關(guān))

LJ30A3-10-J/EDZ標(biāo)準(zhǔn)接近開關(guān)

接近傳感器，是代替限位開關(guān)等接觸式檢測方式。以無需接觸檢測對象進(jìn)行檢測為目的的傳感器的總稱。能檢測對象的移動信息和存在 信息轉(zhuǎn)換為電器信號，在換為電氣信號的檢測方式中，包括利用電磁感應(yīng)引起的檢測對象的金屬體中產(chǎn)生的渦電流的方式，捕測體的接近 引起的電氣信號的容量變化的方式、利石和引導(dǎo)開關(guān)的方式。在JIS規(guī)格中，根據(jù)IEC60947-5-2的非接觸式位置檢測用開關(guān)，制定了JIS規(guī)格 (JISC8201-5-2低壓開關(guān)裝置、第5控制電路機(jī)器及開關(guān)元件、第2節(jié)接近開關(guān))

SMAPH-BJT30L接近開關(guān)

SMAPH-BJT30P接近開關(guān)

SMAPH-JFT18A接近開關(guān)

SMAPH-JFT30A接近開關(guān)

SMAPH-BJT12P接近開關(guān)

SMAPH-BJT18L接近開關(guān)

SMNPH-BJT30P接近開關(guān)

SMNPH-JFT30A接近開關(guān)

SMDPH-BJT30N接近開關(guān)

SMDPH-JFT30B接近開關(guān)

SMAPH-BJT30N接近開關(guān)

SMAPH-JFT12R接近開關(guān)

SMAPH-JFT18B接近開關(guān)

SMAPH-JFT30B接近開關(guān)

SMDPH-BJT18N接近開關(guān)

SMDPH-BJT18P接近開關(guān)

SMAPH-BJT18N接近開關(guān)

SMDPH-BJT30L接近開關(guān)

SMAPH-BJT12N接近開關(guān)

SMDPH-BJT30P接近開關(guān)

SMNPH-BJT30N接近開關(guān)

SMNPH-JFT30B接近開關(guān)

SMAPH-TA18C接近開關(guān)

SMDPH-BJT18L接近開關(guān)

SMAPH-BJT12L接近開關(guān)

SMAPH-BJT18P接近開關(guān)

IM12-08NPS-ZCK,6025686接近開關(guān)

BI2-M12-AP6X-H1141接近開關(guān)接近開關(guān)

E2E-X20MD1-Z 2M接近開關(guān)

E2E-X14MD2-Z 2M接近開關(guān)

E2E-X4MD2-Z 2M接近開關(guān)

E2E-X18ME1-Z 2M接近開關(guān)

E2E-X5ME2-Z 2M接近開關(guān)

SE5640HL接近開關(guān)

BES516-325-G-S4-C接近開關(guān)

TL-Q5MD1 2M BY OMC接近開關(guān)

SMWHF-D8G接近開關(guān)

SMWHF-D6G接近開關(guān)

SMWHF-D7G接近開關(guān)

JBL-NST2-I（II）-C接近開關(guān)

JBL-NST1-12-30C接近開關(guān)

SBN20-U2/K2D接近開關(guān)

SIES-8M-PO-24V-K-7.5-OE，551391接近開關(guān)

830100469接近開關(guān)