SC-3020B位置接近開(kāi)關(guān)KGE1-1AP

SC-3020B位置接近開(kāi)關(guān)KGE1-1AP

特長(zhǎng):
1、由于能以非接觸方式進(jìn)行檢測(cè)，所以不會(huì)磨損和損傷檢測(cè)對(duì)象物。
2、由于采用無(wú)接點(diǎn)輸出方式，因此壽命延長(zhǎng)（磁力式除外）采用半導(dǎo)體輸出，對(duì)接點(diǎn)的壽命無(wú)影響。
3、與光檢測(cè)方式不同，適合在水和油等環(huán)境下使用，而且檢測(cè)時(shí)幾乎不受檢測(cè)對(duì)象的污漬和油、水等的影響。此外，還包括特氟龍外殼型及耐藥品良好的產(chǎn)品。
4、與接觸式開(kāi)關(guān)相比，可實(shí)現(xiàn)高速響應(yīng)
5、能對(duì)應(yīng)廣泛的溫度范圍
6、不受檢測(cè)物體顏色的影響對(duì)檢測(cè)對(duì)象的物理性質(zhì)變化進(jìn)行檢測(cè)，所以幾乎不受表面顏色等的影響
7、與接觸式不同，會(huì)受周圍溫度的影響、周圍物體、同類傳感器的影響包括感應(yīng)型、靜電容量型在內(nèi)，傳感器之間相互影響。因此，對(duì)于傳感器的設(shè)置，需要考慮相互干擾。此外，在感應(yīng)型中，需要考慮周圍金屬的影響，而在靜電容量型中則需考慮周圍物體的影響。

SC-3020B位置接近開(kāi)關(guān)

基本原理:

通過(guò)外部磁場(chǎng)影響，檢測(cè)在導(dǎo)體表面產(chǎn)生的渦電流引起的磁性損耗。在檢測(cè)線圈內(nèi)使其產(chǎn)生交流磁場(chǎng)，并檢測(cè)體的金屬體產(chǎn)生的渦電流引起的阻抗變化進(jìn)行檢測(cè)的方式。此外，作為另外一種方式，還包括檢測(cè)頻率相位成分的鋁檢測(cè)傳感器，和通過(guò)工作線圈僅檢測(cè)阻抗變化成分的全金屬傳感器。

接近開(kāi)關(guān)BI2-EM12WD-AP6/S929

接近開(kāi)關(guān)BI2-EM12WDTC-Y1X

接近開(kāi)關(guān)BI2-EM12-Y1X-H1141

接近開(kāi)關(guān)BI2-G12K-AN6X

接近開(kāi)關(guān)BI2-G12K-AP6X

接近開(kāi)關(guān)BI2-G12K-AP6X-H1141

接近開(kāi)關(guān)BI2-G12SK-AP6X

接近開(kāi)關(guān)BI2-G12SK-Y1X

接近開(kāi)關(guān)BI2-G12-Y1X

接近開(kāi)關(guān)BI2-G12-Y2X 7M

接近開(kāi)關(guān)BI2-M08-AN6X

接近開(kāi)關(guān)BI2-M08-AN6X-H1341

接近開(kāi)關(guān)BI2-M08-AN6X-V1131

接近開(kāi)關(guān)BI2-M08-AP6X

接近開(kāi)關(guān)BI2-M08-AP6X-H1341

接近開(kāi)關(guān)BI2-M08-AP6X-V1131

接近開(kāi)關(guān)BI2-M08E-AN6X

接近開(kāi)關(guān)BI2-M08E-AN6X-H1341

接近開(kāi)關(guān)BI2-M08E-AN6X-V1131

接近開(kāi)關(guān)BI2-M08E-AP6X

接近開(kāi)關(guān)BI2-M08E-AP6X-H1341

接近開(kāi)關(guān)BI2-M08E-AP6X-V1131